ATE+手动双扣测试座

• 系列： 手动/自动+旋压
• 特性： 应用于BGA测试&老化，高精度（-+0.01MM），根据不同测试方案选用探针和Socket材料。可标准化定制。
• 封装： WLCSP，BGA，QFN，QFP...
• 结构&探针： 最小测试间距 : 0.35mm/ 探针弹力： 13g -50g/ 探针行程：0.3mm -0.6mm
• 材料： Socket材料： AL6061、Torlon、PEEK、PEI/ 弹簧探针头材料：硬化铍铜镀金/ 弹簧材料：钢琴丝/镀金弹簧/
• 电性能： 接触电阻：<75m gmΩ/ 电流承载能力：3A 持续电流/ 频宽： > 10GHZ @-1db/ 电感： 1.1nH
• 环境： 温度：-40°C -25°C- 150°C
• 可靠性： 探针寿命：300K/ Socket寿命： >40W
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