LocationHome>Products>QFP test socket>QFP8 TEST SOCKET




Product parameter:

1.Whole body use high performance engineer material making, bandwidth >2GHz@-3dB

2.adopt single buckle spin design, level thrust bearing in spin bottom inside, save labor and no wear, fixed stroke distance, protect probe and chip efficiency

3.Adopt import probe, golden plated on the probe surface, contact stable,working life achieve to 50,000times.probe is replaceable, easy maintenance

4.customized different type and size of QFP




Product parameter:


Product name

Material

Electric conductor

Spring force

Contact resistance

Max current capacity

Working temperature

Working life

IC size

IC pitch

Pin count



:QFP8 test socket

: AL6061 + Torlon + PEEK

:POGO pin

:30g/pin

:30mΩ   MAX

:3A

:-40 Celcius degree to + 120 Celcius degree

:50 thousand times

:3 x 3

:0.65

:8